单轴晶体晶轴

高精度三维定向

提供一种非破坏性、高精度的晶轴取向测量方法,用于晶体加工质量评估与偏振敏感器件优化。

Wanshou, Sun · Hexiang, Li · Baili, Qiu · 梁果 · 於亚飞 · 张庆茂

Optics and Laser Technology 2025

参数信息

方位角分辨率
1.9×10⁻³ °
相位分辨率
2.5×10⁻⁵ rad

技术优势

非破坏性

无需接触或损伤晶体即可测得晶轴取向,适用于珍贵样品和在线检测。

高精度测量

利用弱值放大效应,将微小相位变化转换为可测量的光谱位移,方位角分辨率达1.9×10⁻³°。

扩展动态范围

相位补偿策略成功应用于大切割角测量,在保持高灵敏度的同时扩展了可测角度范围。

测量重复性好

在四个蓝宝石晶体的重复测量中观察到切割角结果具有极佳一致性。

应用场景