深度学习光流测量法

像素与亚像素双精度

结合RAFT与KLT的互补优势，实现大位移振动测量的全尺度高精度识别。

Liujun, Guo · 郭文华 · Chen, Dingshi · Zifan, Shi · Mao, Tan

Mechanical Systems and Signal Processing 2025

技术优势

像素级和亚像素级位移均能精确识别

显著提高大位移测量精度

实验室和现场测试均验证有效