边缘端快速检测
在不牺牲检测精度的前提下，大幅压缩模型体积并提升推理速度，适合直接部署在资源受限的工业边缘设备上。
王婧 · He, Zou · Zhou, Meng · Rong, Su
IEEE Transactions on Industrial Informatics 2024
在Raspberry Pi边缘设备上，单缺陷检测可达294 FPS，满足工业产线实时检测需求，无需等待云端返回。
相比现有方法，模型大小平均减少50%，降低存储和传输负担，更易部署到边缘设备。
在轻量化的同时保持高精度：precision 97.91%，mAP 96.66%，满足工业质检的严格要求。
基于知识蒸馏的快速学习方案仅需50个epoch即可收敛，缩短开发周期，便于快速适应新缺陷类型。