2H双层MoS2材料

THz磁光谱学基准

采用太赫兹磁光测量在法拉第几何中确定2H堆叠双层MoS2的关键电子参数,包括Q点有效质量,为二维材料电子性质研究提供实验基准。

Cheng, Xingjia · 徐文 · Wen, Hua · Jing, Zhang · Zhang, Heng · Li, Haowen · Peeters, M.

Frontiers of Physics 2024