高折射率宽检测
在光纤与金膜之间嵌入高折射率PVP层,突破光纤固有折射率限制,可检测更高折射率并扩大测量范围。
Li, Lingling · Huayan, Wu · Hua, Tu · Hao, Ke · Hao, Liu · 刘芳 · 周爱
Sensors and Actuators, A: Physical 2024
高折射率PVP层突破了光纤固有折射率对低折射率的限制,使传感器能够测量更高折射率样品,扩大了检测范围。
在PVP层厚度为60 nm时,传感器性能优于无PVP层的传感器,灵敏度与品质因数均得到提升。
传感器制备工艺简单且成本低廉,适合批量生产与实际应用。