650圈容量保持80%
通过高价钽掺杂形成强Ta-O键，稳定晶格氧并抑制电压衰减，提升富锂层状氧化物的循环稳定性。
Wang E. · 肖东东 · Wu, Tianhao · Wang, Boya · Wang, Yinzhong · Wu, Lingqiao · Zhang X. · Yu H.
Battery Energy 2023
Ta掺杂形成强Ta-O键并降低Ni-O键的共价性，从而稳定晶格氧，抑制不可逆氧释放。
在1C下经过650次循环后，电压衰减仅为0.34 mV/圈，有效缓解富锂材料常见的电压平台下降问题。
1C倍率下循环650次后容量保持率仍达80%，证明结构稳定性显著提升。