绿色溶剂钙钛矿单晶

低缺陷高探测

通过空间位阻工程在绿色溶剂中快速生长，缺陷密度创纪录低，同时用于高性能光电探测和X射线探测。

Tianqi, Zhang · Hou, Yaqi · Jinghui, Han · Chu, Depeng · Chen, Xiang · 陈国龙 · 范小通 · Yang, Xiao · Zhang, Renzhu · 刘渝城 · 王树立 · Wei, Haotong · 陈忠 · 林岳 · Lee Tae-Woo

Advanced Materials 2026

参数信息

陷阱密度
2.56 × 10⁸ cm⁻³
X射线衍射峰宽
0.00802 °
比探测率
6.8 × 10¹³ Jones
检测限
3.6 nGy_air s⁻¹

技术优势

缺陷密度创纪录低

陷阱密度低至 2.56 × 10⁸ cm⁻³，意味着少子寿命和载流子迁移率更高，器件噪声更小。

晶体质量极高

X 射线衍射峰宽仅 0.00802°，表明晶格高度有序，缺陷和应变极小。

光电探测性能优异

比探测率高达 6.8 × 10¹³ Jones，适用于弱光检测。

X 射线检测限低

检测限低至 3.6 nGy_air s⁻¹，可用于低剂量医学成像。

应用场景