消除检测盲区
该拓扑通过级联谐振放大检测线圈阻抗变化，使微小金属异物引起的微弱阻抗波动也能被可靠检出，从而彻底消除传统异物检测的盲区。
孙瑛 · Zhou, Tian · Song K. · 朱春波 · 魏国
Diangong Jishu Xuebao/Transactions of China Electrotechnical Society 2023
高阶复合谐振拓扑对金属异物引起的检测线圈阻抗变化具有更高灵敏度，即使位于角位的小尺寸异物也能被检测到。
检测线圈阵列与磁耦合器解耦，其参数基本不受磁耦合器偏移影响，对无线充电系统的输出功率和效率没有影响。
与传统串联/并联谐振检测电路相比，该拓扑对金属异物引起的阻抗变化更敏感，使得检测信号具有高信噪比。