Si-HfO2结合层

1300°C抗氧化百小时

以HfSiO4抑制SiO2热应力, 结合层在1300°C下稳定生长氧化层, 避免开裂剥落。

Shuang, Yu · Wang, Yaming · 王树奇 · Qiang, Zhao · Yang, Li · Dawei, Ren · 陈国良 · 邹永纯 · Ouyang, Jiahu · 贾德昌 · Zhou, Yun

Corrosion Science 2023

参数信息

热生长氧化层厚度
3.08 ± 0.36 µm

技术优势

抑制热应力尖峰

HfSiO4消耗SiO2,减少由氧化物体积膨胀和相变引起的热应力,使涂层在1300 ℃下100 h无开裂剥落。

氧化皮更薄更致密

氧化100 h后热生长氧化层厚度仅3.08 ± 0.36 µm,远低于纯Si结合层,表明氧化速率被有效抑制。

应用场景