杂散光校正矩阵

消除86.6%杂散光

通过视场、偏振角和波长的三维调整构建杂散光分布矩阵，直接用于光谱调制偏振光谱仪的测量校正。

Yanghao, Chu · Ji, Feng · Li, Mengfan · Hu, Yadong · Qiu, Zhenwei · Jingjing, Shi · Wang, Xiangjing · Tao, Wang · Chi, Gaojun · Yang, Benyong · Hong, Jing

Guangxue Xuebao/Acta Optica Sinica 2025

参数信息

杂散光消除率

86.6 %

技术优势

消除86.6%杂散光

通过视场、偏振角和波长的三维调整生成杂散光分布矩阵，实测可消除超过86.6%的杂散光，直接提升测量精度。

可定量测试杂散光

基于线偏振单色平行光设计杂散光分布矩阵测试系统，能够对仪器进行精确标定和验证。

仿真与实验一致

LightTools仿真得到杂散光路径分布，与实测图像高度相似，验证了模型的准确性，为校正提供了可靠基础。

应用场景

• 光谱仪校准：用杂散光分布矩阵校正测量数据，提高光谱仪校准精度。
• 精密光学测量：减少杂散光干扰，提升辐射与偏振测量精度。
• 遥感辐射定标：校正杂散光引起的误差，保证遥感辐射定标的可靠性。
• 偏振成像：消除杂散光，改善偏振成像质量。