揭示热老化对XLPE电缆绝缘层结构和介电性能的演变规律,为电缆绝缘状态评估提供实验依据。
Yamei, Li · Zhaowei, Peng · Xu, Dangguo · Huang, Shiyang · 高岩峰 · 李原
Energies 2024
通过极化/去极化电流测量,建立了扩展德拜模型参数与老化时间的对应关系,可用于电缆绝缘状态评估。
老化后直流电导率和0.1 Hz介质损耗因数显著增大,分别从2.26×10⁻¹⁶ S/m和0.11%升至4.47×10⁻¹⁶ S/m和0.42%。
热老化损伤XLPE晶体结构,晶区/非晶区界面增多,导致绝缘性能下降。