少铬缺陷铬酸铅薄膜

光电水氧化电流翻倍

通过减少铬缺陷抑制深能级与表面陷阱,加速水氧化动力学。

何辉超 · 周勇

Chemical Science 2026

参数信息

光电流密度
1.13 mA cm⁻²
水氧化速率常数
40.6 s⁻¹

技术优势

光电流翻倍

减少Cr缺陷后,光阳极在1.23 V vs. RHE下的光电流从0.55提高到1.13 mA cm⁻²,达到富缺陷薄膜的两倍。

水氧化动力学更快

少缺陷薄膜的水氧化速率常数达到40.6 s⁻¹,接近富缺陷薄膜(8.2 s⁻¹)的5倍,表明表面催化反应显著加快。

应用场景