光电水氧化电流翻倍
通过减少铬缺陷抑制深能级与表面陷阱,加速水氧化动力学。
何辉超 · 周勇
Chemical Science 2026
减少Cr缺陷后,光阳极在1.23 V vs. RHE下的光电流从0.55提高到1.13 mA cm⁻²,达到富缺陷薄膜的两倍。
少缺陷薄膜的水氧化速率常数达到40.6 s⁻¹,接近富缺陷薄膜(8.2 s⁻¹)的5倍,表明表面催化反应显著加快。