效率亮度倍增
通过Li掺杂协同MgO包覆调控缺陷态,解决ZnO/量子点界面激子淬灭与电荷注入限制,为InP基环保型QLED提供高性能电子传输层。
Ning, Meijing · 曹盛 · Li, Qiuyan · Hang, Luo · Zhentao, Du · Wang, Yunjun · 赵家龙
Journal of Physical Chemistry C 2023
Li掺杂和MgO包覆协同钝化ZnO缺陷,抑制激子淬灭,使EQE从纯ZnO器件的3.7%提升至9.7%。
由于界面非辐射复合减少,器件在4.2 V下亮度达22,200 cd m⁻²,远超纯ZnO器件。
Li掺杂提高ZnO电子迁移率并减少ZnO/量子点界面的自发电荷转移,从而降低QLED的漏电流。
使用InP量子点替代含镉量子点,减少重金属污染,同时保持高性能。