厘米级MoS₂单晶

10分钟快速生长

源限域CVD法突破传统生长速度瓶颈,厘米级单晶薄膜兼具高晶体质量与低缺陷密度,支持高均匀性逻辑电路集成。

Zheng, Biyuan · 王慧 · 王艺哲 · Weihao, Zheng · 刘勇 · Wu, Guangcheng · Li, Miaomiao · 王莎 · Sun, Xingxia · Zhu, Chenguang · 杨欣 · Xu, Zheyuan · Liu Xinfeng · Xiang, Li · 李东 · 潘安练

Research 2026

具体参数

硫空位密度
8.49 × 10¹² cm⁻²
Average mobility
0.46 cm² V⁻¹
逻辑电路功耗低于
0.3 nW

技术优势

10分钟内合成厘米级MoS₂单晶薄膜