超薄In₂O₃纳米片

可见盲探测

首次基于单一超薄In₂O₃纳米片实现高响应度、高紫外/可见抑制比的光电化学紫外探测器，性能优于所有近期报道的同类器件。

Mingxi, Zhang · Yu, Huan · Li, Hang · Yan, Jiang · Qu, Lihang · Wang, Yunxia · Gao, Feng · 冯伟

Small 2023

具体参数

响应度

{'zh': '172.36', 'en': '172.36'} mA W⁻¹

比探测率

{'zh': '4.43 × 10¹¹', 'en': '4.43 × 10¹¹'} Jones

紫外/可见抑制比

{'zh': '1567', 'en': '1567'}

技术优势

单一材料即可高性能

超薄In₂O₃纳米片同时实现了高响应度和高紫外/可见抑制比，无需复合其他材料。

量子限域致可见盲

量子限域效应导致光吸收蓝移，使器件对可见光响应极低，实现可见盲探测。

抑制比远超纳米颗粒

紫外/可见抑制比达1567，是In₂O₃纳米颗粒的30倍，且超过所有近期报道的同类器件。

应用场景

• 光电化学紫外探测器：用单一超薄In₂O₃纳米片即可构建高响应度、高抑制比的可见盲紫外探测器，无需复合其他材料。
• 水下成像：该器件稳定性好，且已展示水下成像能力，可用于水下紫外光电探测与成像。
• 宽带隙光电材料：超薄In₂O₃纳米片作为宽带隙材料，量子限域效应使其吸收蓝移，实现可见盲光谱选择性。