环保替代SF6
在放电故障下，C6F12O在Cu(111)表面分解倾向低，而在Al(111)表面分解倾向高，提示Al电极存在更高腐蚀风险。
Cui, Zhaolun · 郝艳捧 · Shuangshuang, Tian · 张晓星 · Zheng, Yashuang
High Voltage 2024
C-F单键断裂是吸附C6F12O分解的决速步骤，放电效应可促进其断裂
在Al(111)表面，C-F断裂后C-C断裂显著促进，而在Cu(111)表面仍不利
Al(111)表面有更高的连续分解腐蚀风险