90分钟降解超97%
金属-半导体双界面构建S型电荷转移路径,同步抑制电子-空穴复合,大幅提升可见光催化降解效率。
Duo, Xi · Ga, Latai · Liangliang, Bao · Jin, Wang · Hao, Tang · 盛显良 · Yuhui, Zhang · 79450648
Colloids and Surfaces A: Physicochemical and Engineering Aspects 2026
Ag桥在ZnO/Bi2MoO6界面形成金属-半导体双界面,作为电子陷阱抑制复合,延长载流子寿命。
RhB降解速率常数达到纯ZnO的16.53倍、纯Bi2MoO6的9.65倍,TCH也分别提高4.77倍和2.44倍。
连续三个降解循环后性能无明显下降,证明催化剂结构稳定,可重复使用。