0.3 mm 微缺陷高分辨成像
融合多模式成像与相干噪声抑制,实现对亚毫米微缺陷的无接触、高分辨率可视化。
刘增华 · Long, Chen · Zhu, Yanping · Liu, Xiaoyu · 何存富
Optics and Laser Technology 2025
实验中对最小 0.3 mm 的盲孔获得了高分辨率全聚焦图像。
多尺度主成分分析在预处理阶段即抑制相干噪声和盲区。
利用多种波模式成像并融合,有效减少误检与漏检。
多模式图像的 −6 dB 阈值可直接提供缺陷尺寸信息。