线宽 2.4 μm
一反常规利用侧蚀现象,实现了远超掩模分辨率的高密度铜基电路制造。
Houchao, Zhang · Junjie, Liu · 朱晓阳 · Youchao, Zhang · Li H. · Li, Zhenghao · Rui, Wang · 张广明 · 兰红波 · 张广明
Journal of Manufacturing Processes 2024
EFD微喷印掩模的分辨率通常在数十微米级,侧蚀工艺可在掩模开口基础上进一步减细线条,最终实现2.4 μm线宽。
在含基板透光率高达87.65%时,方阻仍低至3.58 Ω/sq,兼顾光学透过与电学性能。
所制叉指电极在100–10,000 Hz频率下,最低可检测1 nmol/L稀硫酸浓度变化,灵敏度优异。