高k低漏电
一种具有电子去耦和显著表面离子行为的新型高k范德华介电材料
Jiabin, Liu · Fusheng, Zhang · Shu-Hui, Wang · 刘开朗 · 肖瑞春 · 金晨东 · 张虎 · 连如乾 · 王瑞宁 · 巩朋来 · 石兴强 · 王江龙
Journal of Materials Chemistry C 2024
层数增加时,带隙和带边位置几乎不变,类似电子去耦行为,有利于器件性能的一致性。
面外高介电常数随层数增加显著上升,源于显著的表面离子行为,可通过层数调节。
4层及以上α-Sb₂O₃与多种二维半导体沟道组合的漏电流均满足国际标准,确保低功耗。
4层和5层α-Sb₂O₃满足小等效氧化层厚度标准,有望用于先进栅极电介质。