碳化硅抛光液

粗糙度降至3 nm

一种专用于超声辅助化学机械抛光单晶碳化硅的抛光液,通过三乙胺、邻苯二甲酸氢钾、硅铝复合磨粒和过氧化氢的协同配比,将表面粗糙度从95 nm降至3 nm。

刘瑶

Scientific Reports 2024

参数信息

表面粗糙度从
95 nm
材料去除率
25.96 nm/min
相比正交试验最优方案
7 nm