功耗降九成
首个实现NEMI 2.1 nT/√Hz且功耗仅364 µW的CMOS集成磁强计,片上集成校准与低噪声放大器,专为低频精密测量设计。
Tavakkoli, Hadi · Ahmed, Moaaz · Shah, Ikramullah · Chen, Wenhao · Bermak, Amine · Lee, Yikuen
Microsystems and Nanoengineering 2026
采用嵌套斩波电流反馈架构,将100 Hz输入参考噪声从73.45 nV/√Hz降至36.92 nV/√Hz,使1 Hz-1 kHz频段内的微弱磁场测量更加干净。
Integrated-within-Aperture布局将仪表放大器完全置于平面螺旋电感内径中,无需额外芯片面积即可获得高灵敏度。
片上校准消除了对外部校准电路的需求,简化系统集成。