一种频域热耦合模型,可在不损失精度的情况下减少参数数量并简化表征过程,用于多并联芯片功率模块的热行为预测。
Tianle, Cai · Zhou, Dangsheng · Tianhao, Wu · 马柯
IEEE Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics 2024
通过频域分析和将平均损耗相同的芯片分组,模型所需参数数量大幅减少,表征流程因此简化。
与现有方法相比,该模型在减少参数的同时保持预测精度,已通过有限元仿真和实验验证。