耐流为MoS₂器件五倍
首次揭示多层PdSe₂ FET的失效电流密度远高于MoS₂,并指出界面热阻是限制其性能的关键。
Jiaqiu, Xie · Ze-Hao, Yu · Yuanchen, Sun · Gan, Qikang · 刘晨晗 · Wang, Lei · 张力发 · 赵云山
Advanced Materials 2025