核壳结构钛酸钡陶瓷

直流偏压下介电常数几乎不降

采用多元素掺杂构建核壳结构，有效抑制直流偏压下介电常数的衰减，同时满足X8R温度稳定性和宽频稳定性。

Ruiling, Chang · 尧中华 · 郝华 · 曹明贺 · 刘韩星

Journal of Materiomics 2026

具体参数

直流偏压衰减率

{'zh': '-0.61', 'en': '-0.61'} %

频率稳定性

{'zh': '-2.1', 'en': '-2.1'} %

技术优势

偏压几乎不降容

多元素掺杂构建的核-壳结构有效抑制了核区的电畴转向，高缺陷浓度还钉扎了氧空位迁移，使介电常数在2 V/μm下几乎不变。

宽温宽频都稳

同一组分同时满足严格的EIA X8R温度规范（−55 °C至150 °C内容值变化≤±15%）和1 kHz到1 MHz宽频稳定性（−2.1%变化），无需在不同性能间妥协。

抗还原不失效

通过Y/Mn/Mg多元素掺杂，即使在还原气氛烧结时也能保持绝缘性，解决了贱金属内电极MLCC用钛酸钡易被还原为半导体的难题。

应用场景

• MLCC电介质：替代现有X7R/X8R材料，使车载MLCC在额定偏压下仍保持高有效电容。
• 高可靠电容器：在宽温、宽频下提供稳定容值，降低电容失效风险。
• 功率模块被动元件：在母线偏压下仍保持高储能密度，可缩小电源模块中滤波/解耦电容体积。