共轴光路LIBS系统

谱强6–150倍

同一紧凑结构下将光谱强度提升到离轴光路的6倍、反射式光路的150倍,适合追求便携与灵敏度兼具的现场检测。

Yan, Jiujiang · Liu, Ke · Jin-Xiu, Ma · Li, Yang · 李开龙 · Wei, Hongwei

Plasma Science and Technology 2025

参数信息

光谱强度提升倍数(相对离轴光路)
6 ×
光谱强度提升倍数(相对反射式光路)
150 ×
相对标准偏差(光谱稳定性指数)
10.9 %

技术优势

谱强提高数百倍

共轴光路与离轴光路相比光谱强度提高6倍,与反射式光路相比提高150倍,大幅增强检测灵敏度。

信号更稳定

共轴光路的相对标准偏差(RSD)保持在10.9%–13.4%的低水平,显著优于另外两种光路,保证分析结果的可靠性。

定性定量更准

在定量分析方面,共轴光路展现出更高的准确度、精密度和灵敏度,Si、Cu、Ti元素的分析模型拟合良好,为用户提供高质量结果。

应用场景