热插拔下抗电弧侵蚀
针对热插拔工况优化的铜合金接触对，通过抑制电弧侵蚀和滑动磨损，避免接触界面氧化导致的开路失效。
Chang, Sun · He, Yubin · Chao, Zhang · 任万滨
Journal of Failure Analysis and Prevention 2025
通过提取稳定接触压降、不稳定接触持续时间、燃弧时间等敏感参数，能够显式分析电接触性能的退化过程。
发现电弧侵蚀与滑动磨损协同作用导致接触压降和温度上升，促进氧化和熔化，最终形成的氧化铜覆盖磨损轨迹是开路失效的根本原因。
实验在50 V/25 A负载下进行，获得了接触压降、接触电流和法向力的典型波形，为热插拔连接器设计提供直接参考。