超薄GaOx隧穿接触层

接触电阻低至2.38 kΩ·μm

利用液态金属自限制氧化制备的氧化镓超薄膜,以氧空位辅助隧穿机制实现高效载流子注入。

Li, Yun · Yun, Tinghe · Wuqing, Fang · Cui, Nan · Bohan, Wei · Mu H. · Du, Luojun · 章嵩 · 张广宇 · 林生晃

International Journal of Extreme Manufacturing 2026

具体参数

电子迁移率
{'zh': '296', 'en': '296'} cm²·V⁻¹·s⁻¹
接触电阻
{'zh': '2.38', 'en': '2.38'} kΩ·μm
接触势垒高度
{'zh': '3.7', 'en': '3.7'} meV

技术优势

接触电阻极低

氧化镓层将金属-半导体接触电阻降至2.38 kΩ·μm,远低于传统hBN等中间层,减少了信号延迟和功耗。

势垒几乎消失

接触势垒高度仅3.7 meV,远低于室温热激发能量,使载流子注入几乎无障碍,有望逼近理想欧姆接触。

室温大面积制备

液态金属打印工艺可在室温下实现范德华集成,避免了高温工艺对材料和器件的损伤,且不含费米钉扎效应。

应用场景