HTV硅橡胶

抗电晕老化

揭示电晕老化双重机制：低强度下交联致密化，高强度下网络断裂与氧化降解，为绝缘材料防护提供指导。

Fang, Jiapeng · Qing, Hu · Han, Ziwu · Yuanyuan, Li · Zhenfei, Fu · Shilong, Suo · 彭向阳 · 王正 · 何春清 · 方鹏飞

Polymer Degradation and Stability 2026

具体参数

低强度电晕
{'zh': '4', 'en': '4'} kV
高强度电晕
{'zh': '>7', 'en': '>7'} kV

技术优势

低强度下吸水率下降

交联限制自由体积，从而降低水扩散系数。

高强度下老化机制转变

网络断裂和氧化降解引入亲水羟基，加速水扩散。

电子能量决定老化路径

电子能量决定断裂Si–O或Si–C键，从而驱动交联或降解。

应用场景