宽温域高平均ZT
通过直接Sb掺杂在Bi₂Te₃中引入反位缺陷和增强声子散射,同时优化电输运和降低热导率,实现了宽300–500 K温域内的高平均热电优值。
Xicheng, Guan · 刘志愿 · Ma, Ni · 栗周 · 刘娟 · 张慧燕 · 李海玲 · Qian, Ba · Junjie, Ma · Jin, Chuangui · 夏爱林
Acta Metallurgica Sinica (English Letters) 2024
增加Sb含量削弱双极效应,使最佳ZT温区拓宽至300–500 K,平均ZT达0.93。
Sb替位Bi产生Sb′Te反位缺陷,增加空穴浓度,优化电导率和塞贝克系数。
质量/应力波动点缺陷与Sb杂质协同增强声子散射,降低晶格热导率。