ATDA钝化CsPbBr₃纳米片

蓝光电探测超稳

经ATDA表面处理后，纳米片在溶液和薄膜中均保持优异光学性能，显著提升蓝光光电探测器的稳定性与探测率。

Wang, Hao · Zhentao, Du · Xue, Jiang · 曹盛 · Zou Bingsuo · 郑金桔 · 赵家龙

ACS Applied Materials & Interfaces 2024

具体参数

探测率
{'zh': '9.36 × 10¹²', 'en': '9.36 × 10¹²'} Jones
空气中存放时间
{'zh': '30', 'en': '30'} days
溶液热稳定性
{'zh': '2', 'en': '2'} h
紫外照射时间
{'zh': '4', 'en': '4'} h

技术优势

热稳定性高

ATDA处理后，纳米片溶液在80°C加热2小时后仍保持高光致发光性能。

抗紫外降解

经ATDA处理的纳米片薄膜在紫外照射4小时后不发生降解。

探测率媲美最佳

基于处理过的纳米片薄膜的光电探测器探测率达到9.36 × 10¹² Jones，可与已报道的最佳CsPbBr₃纳米片光电探测器相媲美。

长期空气稳定

组装器件在空气环境中存放超过30天仍保持高稳定性，显著优于未处理纳米片。

应用场景