耦合低至0.28%
在磁屏蔽系统内同一表面集成主线圈与屏蔽线圈,从源头消除耦合效应,不占用额外体积。
陆吉玺 · Xiaoyan, Gao · Wang, Shuying · Yibo, Qi · Nuozhou, Xu · Xihui, Ye · Lei, Wang
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 2026
从设计源头分离并完全抑制耦合附加项,因此无需额外补偿或隔离措施。
主线圈与屏蔽线圈共用同一表面,无需嵌套结构,不牺牲任何空间。
优化后线圈在目标区域内磁场均匀性达到10⁻⁴量级,满足精密磁场测量需求。