揭示石墨负极表面SEI过度生长导致金属壳体膨胀破裂的机理,为全生命周期安全管理提供依据。
Qiao, Dongdong · Wei X. · 朱建功 · 张光旭 · Shuai, Yang · Wang, Xueyuan · 江波 · 来鑫 · 郑岳久 · Haifeng, Dai
eTransportation 2025
差分电压分析与电化学阻抗谱可在不拆解电池的情况下,检测SEI膜阻抗增加,识别容量衰减30%以内的早期失效。
结合氩离子截面抛光与XPS,确认石墨负极表面SEI过厚生长是壳体膨胀破裂的直接原因。