硫离子改性层状氧化物正极

抑制氧释放,循环寿命翻倍

通过引入硫离子形成稳定S─O共价键,从源头抑制晶格氧逃逸,突破了层状正极高电压下结构退化的瓶颈。

栗伟 · Xian-Wen, Gao · Yang, Dongrun · 闻雷 · 刘朝孟 · 骆文彬

Small 2024

具体参数

可逆容量
{'zh': '173.1', 'en': '173.1'} mA h g⁻¹
容量保持率
{'zh': '81.5', 'en': '81.5'} %
倍率容量 (2 C)
{'zh': '80.1', 'en': '80.1'} mA h g⁻¹

技术优势

循环寿命大幅延长

硫离子形成的 S─O 共价键抑制了循环中晶格氧的不可逆逃逸,使得 1 C 下 120 圈后容量保持率仍有 81.5%。

高电压下氧释放被抑制

S²⁻ 的引入增强了氧化还原反应的可逆性,并通过形成稳定的 S─O 共价键阻止了结构内氧气的产生和逸出。

倍率性能突出

即使在 2 C 的高倍率下,该材料依然能提供 80.1 mA h g⁻¹ 的可逆容量,适合快充场景。

应用场景