单次全参量成像超表面

相位偏振一并捕获

这种超表面能够在一次曝光中同时获取任意光场的强度、相位和偏振分布，突破了传统方法需要多次测量或只适用于特定光场的限制。

包燕军 · 李宝军

National Science Review 2025

技术优势

单次全参量

一次曝光同时记录任意光场的强度、相位和偏振，不再需要多次测量或更换元件。

不挑光场

方法不针对特定光场设计，可直接用于具有任意明确分布的多种光场。

应用场景

• 光学成像：同时获取强度、相位和偏振分布，替代多次测量，提升成像效率和信息完整性。
• 光通信：单次测量恢复光场全部参数，可用于波前和偏振编码信息的快速接收。
• 智能传感：紧凑结构中实现全参量光场探测，便于集成到智能传感系统进行实时分析。