六类缺陷自动识别
用高光谱成像结合深度学习网络，实现对大豆种子六类缺陷的无损快速识别。
孙来军 · Hongyi, Bai · 王世刚 · Cao, Liwen · Zhao, Yuerong · Shujia, Li · Lingyu, Zhang
Journal of Food Science 2026
网络融合一维光谱和二维GAF图像特征，对完好、热损、虫蚀、破损、斑点和霉变六类种子能同时给出分类。
高光谱成像能捕捉种子内部组分变化，热损、霉变这类表面不明显的缺陷也能识别，无需切开种子。
在相同数据上，DC-RSEN-GF的准确率、精确率和F1分数全面优于ERT、LDA、SVM和VGG19、ResNet18。