介质超表面偏振探测器
近红外高精度
对称与手性两种设计,免串扰地同时测定线偏与椭偏偏振态,角度误差小于4.5°,斯托克斯误差低于0.0017。
Yufeng, Wu · 吴倩楠 · 李克武 · 李孟委
Plasmonics 2025
参数信息
- 线偏振角度偏差
- <4.5 °
- 椭圆偏振光斯托克斯参数误差
- <0.0017
技术优势
线偏振角度偏差小于4.5°
利用两种超表面的透射率与入射偏振角的关系,直接解算出高精度角度。
四种椭圆偏振态误差均低于0.0017
基于Stokes-Muller公式反演偏振态,实验验证了四种椭圆偏振光均具有极高精度。
同时探测线偏与椭偏
对称与手性两种设计分别覆盖线偏振与非线偏振探测场景,互不干扰。
紧凑且无串扰
仅由硅介质谐振器周期阵列构成,体积小,适合集成。
应用场景
- 偏振成像:用高精度偏振态探测提升成像对比度与信息维度。
- 片上偏振测量:紧凑介质超表面可集成到光路中,实现无机械部件的偏振测量。
- 环境光学传感:利用偏振态变化监测目标散射特性,提高环境感知灵敏度。
- 生物光学检测:通过偏振响应差异区分生物组织或分子的光学特征。