迁移率提升逾十倍
引入Cy-F添加剂，显著提高PEA2SnI4 TFT的载流子迁移率和稳定性。
Su, Huimin · 张曙光 · Kangxin, Shen · 周骐 · Jintao, Xu · 黄家乐 · Yutian, Liu · Lan, Lingfeng · 彭俊彪
Small 2026
Cy-F与PEA+和Sn2+强相互作用，增强PEA+锚定，形成均匀、取向良好的薄膜，使迁移率从0.15提高到1.88 cm2V-1s-1。
添加Cy-F后，界面陷阱密度从9.8×1012降至1.8×1012 cm-2eV-1，显著减小了扫描滞后。
掺杂器件在负偏压应力下2000秒后仍保持90%的初始漏电流，之后还有明显的电流恢复。