抗50MeV质子辐照
一种日盲光电探测器,在经受50 MeV质子辐照后仍能检测紫外光,适用于太空环境。
张龙龙 · Li, Hongwei · Zhenyu, Xu · Mengze, Tao · 陈锐 · 马英起 · 樊明明 · 韩建伟
IEEE Transactions on Nuclear Science 2024
在5×10¹² p/cm²的50 MeV质子辐照后,探测器仍能用于紫外光探测,性能退化有限。
在0 V偏压下,响应度下降37%,这一定量退化表明器件在辐照后仍保持大部分灵敏度。
辐照后仍可工作意味着该探测器可用于太空等辐射环境中的紫外探测任务。
利用SRIM/TRIM模拟确认电离和位移损伤共同导致响应度退化,为后续加固提供依据。