给出了器件在空间辐射环境下的性能退化机制，包括缺陷能级和诱生缺陷的确认。
任彦 · Yu, Yongtao · Shengze, Zhou · Chao, Pang · Lei, Zhifeng · 张鸿 · 冯志红 · Song, Xubo · Ni, Yiqiang
Micromachines 2025
450 MeV Kr离子辐照后，高频性能显著退化
SRIM计算和光致发光谱证实了辐照诱发缺陷的存在