孔隙率低至3.2%
通过优化放置配置,显著抑制了AM AlSi10Mg与AA1050异种激光焊接中的气孔缺陷,从而提升接头可靠性。
Sun, Tianzhu · Liu, Conghui · Franciosa, Pasquale · Nesta, Ferguson · Gibbons, Gregory John · Ceglarek, Dariusz J. · Mogire, E. O. · 张培磊
Journal of Materials Research and Technology 2023
AM AlSi10Mg置于底部时,源自该材料的气泡在熔池中暴露时间更短,限制了小气泡的合并与长大,因此气孔率显著降低。
当AM AlSi10Mg置于顶部时,焊缝中心出现更多等轴晶,上板熔合线附近为细化的柱状晶,这种组织有利于性能。