质子辐射下耐压提升
2×10¹³ cm⁻²质子辐射后击穿电压提升近350 V,但导通电流密度下降57%,适用于辐射环境下的高压器件。
Yue, Shaozhong · 郑雪峰 · Zhang, Fang · Hong, Yue Hua · Wang, Yingzhe · Zhu, Tian · Sunyan, Gong · Wang, Xiaohu · 吕玲 · 曹艳荣 · 张卫东 · Zhang, J. F. · 马晓华 · 74227950
IEEE Transactions on Electron Devices 2024
截止电流密度降低超过一个数量级