四谱段光伏成像芯片

可见到短波红外单片集成

全聚合物体异质结与胶体量子点在单一CMOS兼容架构内实现350–2350 nm宽谱探测，并借硬件算法协同恢复至640×512高分辨率。

Cheng, Bi · He, Min · 郑晓龙 · Luo, Yuning · Tan, Yimei · Liu, Chenxi · Mu, Ge · 郝群 · Kangkang, Weng · 唐鑫

Advanced Science 2026

具体参数

每通道坏点

{'zh': '<1', 'en': '<1'} %

Spectral range

{'zh': '', 'en': '2350'} nm

技术优势

超分辨重建恢复至640×512