掺砷碲镉汞薄膜

面内带边性质不均

在中红外探测器像素尺度上揭示掺砷碲镉汞带边跃迁与杂质分布的面内不均一性。

陈熙仁 · Wang, Man · Zhu, Liangqing · Xie H. · 陈路 · 邵军

Applied Physics Letters 2023

技术优势

空间分辨率达到典型阵列像素尺度