钴缺陷驱动高活性桥位
利用钴缺陷诱导短Co-Co键桥位,重构后析氧过电位仅为262 mV,优于氧缺陷和无缺陷体系。
张蓉蓉 · 潘伦 · Beibei, Guo · 黄振峰 · Chen, Zhongxin · Li, Wang · 张香文 · Zhiying, Guo · Xu, Wei · Kian Ping, Loh · 邹吉军
Journal of the American Chemical Society 2023
重构后具有Co缺陷的Co₃O₄在10 mA cm⁻²下过电位仅262 mV,比无缺陷的320 mV低58 mV。
Co缺陷减弱*OH吸附但增强去质子化,从而降低重构速率,避免过度结构坍塌。
无论Co或O缺陷,均能在重构后产生高活性的桥式Co位点,而Co缺陷还可压缩晶格,缩短Co-Co键。