一种考虑表面效应和分子间力的纳米开关结构,其线性弯曲行为被系统分析,为纳米开关的设计与制备提供理论依据。
杨帆 · Xuyang, Wang · Li, Chengbo
Ying Yong Li Xue Xue Bao/Chinese Journal of Applied Mechanics 2024
模型同时考虑表面效应和 Casimir 力,能够更准确地预测纳米开关的吸合电压,反映表面效应对电压升高的影响。
通过分析表面效应对弯曲行为和吸合稳定性的影响,为纳米开关的结构设计与制备工艺提供了理论依据。