界面耐久
通过降低充电电压抑制晶格氧释放,实现与非晶氯化物电解质的稳定界面。
Feng, Li · Ye-Chao, Wu · Cheng, Xiaobin · Tan, Yihong · Luo, Jinda · Pan, Ruijun · Ma, Tao · Lu, Leilei · 温晓镭 · 梁正 · 姚宏斌
Energy and Environmental Sciences 2024
将充电截止电压从4.3 V降低后,循环寿命提升6倍,因为避免了晶格氧释放对电解质的破坏。
在5 mA h cm⁻²的高面容量下,1 mA cm⁻²循环300圈、3 mA cm⁻²循环600圈后容量保持率仍超过80%。
通过降低充电电压,从源头避免晶格氧的释放,从而保护非晶氯化物电解质和锂离子渗流网络。