自支撑ZnO紫外探测器

力调控响应度

利用挠曲电和压电耦合效应,通过机械力调控肖特基势垒,使器件在受力状态下响应度和探测率大幅提升。

张梅 · Chen, Weinan · Xiangping, Zhang · Li, Chao · Linkun, Wang · Jinxin, Ge · Chunlin, Song · Li, Changjian · 黄博远

Nano Letters 2025

参数信息

肖特基势垒高度
0.57 V
响应度
678 mA·W⁻¹
探测率
7.9 × 10¹¹ Jones

技术优势

力调控性能

通过施加力提升肖特基势垒高度,从而显著提高响应度和探测率。

响应度大幅提升

响应度从10 mA·W⁻¹提升至678 mA·W⁻¹,提高约68倍,有利于探测微弱紫外信号。

探测率提升两个量级

探测率从3.7 × 10⁹ Jones提升至7.9 × 10¹¹ Jones,提高超过200倍,抑制暗电流的同时增强信号。

应用场景