界面氧化溶解强键合
通过真空热压连接实现界面氧化物溶解和晶界迁移,获得无缺陷的高强度固态连接接头。
Chuanzong, Li · Zheng, Yi · Wang, Yajie · Yu, Chun · 陈劼实 · Lu, Hao · Kejin, Zhang
Journal of Materials Research and Technology 2023
当界面残留氧化物颗粒尺寸小于35 nm且数量低于15/100 μm时,接头的力学性能不受影响,因此无需完全消除氧化物即可获得高性能接头。
揭示了孪晶诱导界面晶界迁移机制,该机制对界面连接质量有促进作用,深化了对固态连接中晶界行为的理解。
通过界面氧化物颗粒溶解和界面晶界迁移,真空热压连接获得了无缺陷的高质量CoCrFeMnNi高熵合金接头。