mAP@50 达 76.2
用自适应的视觉基础模型和双阈值判别器,统一四种工业场景的缺陷检测。
He, Xujie · 金晶 · Fujiang, Yu · She, Zhao · Duo, Chen · 高翔
Measurement: Journal of the International Measurement Confederation 2025
单个模型即可覆盖四种工业缺陷场景,无需为每种场景单独开发。
在四种场景上总 mAP@50 达 76.2,超过 FasterRCNN、YOLO-7X 和 GDINO。
通过工业特征适配器和上下文感知双阈值判别器注入领域知识,提升检测判别能力。